Авторы
Бигус Г.А., Даниев Ю.Ф., Быстрова Н.А., Галкин Д.И.
Место издания
Москва

Основы диагностики технических устройств и сооружений / [Г.А. Бигус, Ю.Ф. Даниев, Н.А. Быстрова, Д.И. Галкин]. – М.: Издательство МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2015 – 445, [1] с.: ил.
ISBN 978-5-7038-4148-8
В монографии приведены основные понятия технической диагностики – области знаний, охватывающей теорию, методы и средства определения технического состояния объектов. Значительное внимание уделено методам неразрушающего контроля, правильное применение которых позволяет получить исходные данные для анализа, проводимого при техническом диагностировании. Изложены элементы теории надежности и методы расчета показателей надежности в приложении к технической диагностике. Рассмотрены вопросы идентификации состояния объекта по измеренным диагностическим параметрам и оценки его ресурса.
Книга предназначена для специалистов в области диагностики технических устройств, экспертов в области промышленной безопасности, а также студентов, обучающихся по соответствующим специальностям.